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技術(shù)文章

美國(guó) KRi 射頻離子源應(yīng)用于氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng)

閱讀:306          發(fā)布時(shí)間:2023-11-1

美國(guó) KRi 射頻離子源應(yīng)用于氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng)
上海伯東美國(guó) KRi 射頻離子源 RFICP 40 成功應(yīng)用于氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng), 協(xié)助客戶完成 MgO, Y2O3, Al2O3 等金屬氧化物在 6寸單晶硅上均勻沉積多層膜的需要, 單晶硅鍍氧化薄膜的工藝過(guò)程, 用于研發(fā)磁學(xué)薄膜, 半導(dǎo)體薄膜, 光學(xué)薄膜和高溫超導(dǎo)薄膜等.

KRi 射頻離子源在氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng)中的作用
設(shè)備: 氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng)
離子源型號(hào): KRi 射頻離子源 RFICP 40, 功率 600W, 頻率 2MHz
應(yīng)用: 通過(guò) IBAD 輔助鍍膜工藝, 實(shí)現(xiàn)單晶硅氧化物薄膜的制備.
膜厚均勻性: 6 英寸樣品, 蒸 MgO 薄膜 200nm, 片內(nèi)測(cè)試 9 個(gè)點(diǎn). 片內(nèi)均勻性 ≤±5%, 片間膜厚均勻性 ≤±5%, 批次間膜厚均勻性≤±5%
KRi 射頻離子源 RFICP40 應(yīng)用于氧化物薄膜及異質(zhì)結(jié)制備系統(tǒng)

真空環(huán)境下, KRi 射頻離子源通過(guò)向生長(zhǎng)的薄膜中添加能量來(lái)增強(qiáng)分子動(dòng)力學(xué), 以增加表面和原子 / 分子的流動(dòng)性, 實(shí)現(xiàn)薄膜的致密化或通過(guò)向生長(zhǎng)薄膜中添加活性離子來(lái)增強(qiáng)薄膜化合物的化學(xué)轉(zhuǎn)化, 從而得到需要的材料. 同時(shí) KRi 射頻離子源可以對(duì)工藝過(guò)程優(yōu)化, 無(wú)需加熱襯底, 對(duì)溫度敏感材料進(jìn)行低溫處理, 簡(jiǎn)化反應(yīng)沉積.
IBAD 輔助鍍膜


美國(guó) KRi 射頻離子源 RFICP 40 特點(diǎn):
RFICP 40 是美國(guó) KRi 射頻離子源系列尺寸最小, 低成本高效離子源. 適用于集成在小型的真空腔體內(nèi). 設(shè)計(jì)采用創(chuàng)新的柵極技術(shù)用于研發(fā)和開(kāi)發(fā)應(yīng)用, 無(wú)需電離燈絲設(shè)計(jì), 適用于通氣氣體是活性氣體時(shí)的工業(yè)應(yīng)用. 標(biāo)準(zhǔn)配置下 RFICP 40 離子能量范圍 100 至 1200ev, 離子電流可以超過(guò) 120 mA.

型號(hào)

RFICP 40

Discharge 陽(yáng)極

RF 射頻, 電感耦合

離子束流

>100 mA

離子動(dòng)能

100-1200 eV

柵極直徑

4 cm Φ

柵極材質(zhì)

鉬或石墨

離子束

聚焦, 平行, 散射

流量

3-10 sccm

通氣

Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

典型壓力

< 0.5m Torr

長(zhǎng)度

12.7 cm

直徑

13.5 cm

中和器

LFN 2000 or RFN


上海伯東美國(guó) KRi RF 射頻離子源無(wú)需燈絲提供高能量, 低濃度的離子束, 通過(guò)柵極控制離子束的能量和方向, 單次工藝時(shí)間更長(zhǎng)!  提供完整的系列, 包含離子源本體, 電子供應(yīng)器, 中和器, 自動(dòng)控制器等. 適合多層膜的制備, 離子濺鍍鍍膜和離子蝕刻, 改善靶材的致密性, 光透射, 均勻性, 附著力等.
KRi射頻離子源


上海伯東同時(shí)提供各類真空系統(tǒng)所需的渦輪分子泵, 真空規(guī), 高真空插板閥等產(chǎn)品, 協(xié)助客戶生產(chǎn)研發(fā)高質(zhì)量的真空系統(tǒng).

1978 年 Dr. Kaufman 博士在美國(guó)創(chuàng)立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研發(fā)生產(chǎn)考夫曼離子源, 霍爾離子源和射頻離子源. 美國(guó)考夫曼離子源歷經(jīng) 40 年改良及發(fā)展已取得多項(xiàng)專. KRi 離子源在真空環(huán)境中實(shí)現(xiàn)薄膜沉積, 干式納米刻蝕和修改材料表面性能, 廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 領(lǐng)域.

若您需要進(jìn)一步的了解 KRi 射頻離子源, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式
上海伯東: 羅小姐


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