CMI900   X射線熒光鍍層測厚儀

儀器介紹

CMI900熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

適用范圍

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，F(xiàn)PC，LED支架，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器，端子，衛(wèi)浴潔具，首飾飾品……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量；

測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。

主要特點(diǎn)

測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度高、穩(wěn)定性好；

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能；

NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片；

服務(wù)及支持。