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訊號檢查機-點屏測試-KX-108M采用獨立通道設(shè)計方案，靈活的通道配置和組合，高穩(wěn)定性,輸出通道采用集成芯片方案，具有高規(guī)格和高可靠性

訊號檢查機-點屏測試-KX-328M本裝置是專門設(shè)計用于中小液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點屏時所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵，...

環(huán)境試驗-步入式恒溫恒濕試驗箱主要用于航天產(chǎn)品，信息電子儀器儀表，材料，電工，電子產(chǎn)品，各種電子元器件在高低溫和濕熱環(huán)境下進行其各性能項指標實驗

環(huán)境試驗-快速溫變試驗箱適用于半導體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的...

環(huán)境試驗-兩箱式冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)測試設(shè)備， 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在...

環(huán)境測試-三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于半導體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條...

C/Dphy訊號檢查機 NB屏高分辨率是專門設(shè)計用于中小液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點屏時所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵：滿足...

定制化Aging板卡-BIST-FS特點：l 支持同步驅(qū)動二片面板l 支援BIST及Aging Mode機種l 每組輸出可提供CLK,可由user自由編輯l 提...

定制化Aging板卡kx-180Al 支持8路訊號同步輸出，每CH支持8路電源輸出支持6路LED輸出160mA/CH，支持每路獨立開關(guān)功能， 具有防靜電保護功能...

Aging老化PCB板卡KX-937A支持驅(qū)動一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit， 可編程Power On Sequence，支...

Aging老化板卡支持LVDS訊號格式，支持24機種存儲功能，方便切換機種，支持驅(qū)動上位機下載參數(shù)(Timing參數(shù)/Power及Pattern)

訊號檢查機-點屏測試-JQ-170E 采用便攜式設(shè)計(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率 1920X1200 (Max),具有靜電防護，訊號...

訊號檢查機-點屏測試JQ-160E 便攜式設(shè)計(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率至1920X1200 (Max),具有靜電防護，訊號隔離等...

訊號檢查機-點屏測試-KX-145M支持LVDS訊號格式,支持120HZ高刷顯示,支持軟體參數(shù)在線實時監(jiān)測,支持15機種存儲功能，方便切換機種

訊號檢查機-點屏測試-KX-137E支持LVDS訊號格式，支持24機種存儲功能，方便切換機種，支持驅(qū)動PC上位機下載參數(shù)(Timing參數(shù)/Power及Patt...

訊號檢查機-點屏測試-KX-248M本裝置是專門設(shè)計用于液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點屏時所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵,滿足...

訊號檢查機-點屏測試-KX-226M本裝置是專門設(shè)計用于液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點屏時所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵, 滿...

訊號檢查機-點屏測試KX-120M 本裝置是專門設(shè)計用于穿戴類液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點屏時所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵...

老化測試系統(tǒng)-AOI光學測試系統(tǒng)應(yīng)用于LCD行業(yè)，覆蓋全尺寸范圍，主要應(yīng)用于產(chǎn)品畫面檢測，基于光學、電測、軟體、算法、機構(gòu)五大模塊，利用高分辨率圖像采集系統(tǒng)和光...

老化測試設(shè)備系列- OLED老化測試系統(tǒng)提供OLED CELL點屏時所需信號，數(shù)據(jù)和電源信號，適用于產(chǎn)線，品質(zhì)，研發(fā)的ACA，MCA，壽命機等各種Offline...