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環(huán)境試驗(yàn)-快速溫變試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測試整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的...

環(huán)境試驗(yàn)-兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)測試設(shè)備， 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在...

環(huán)境測試-三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品，為電子零組件，成品、半成品、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測試整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條...

C/Dphy訊號檢查機(jī) NB屏高分辨率是專門設(shè)計(jì)用于中小液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵：滿足...

定制化Aging板卡-BIST-FS特點(diǎn)：l 支持同步驅(qū)動二片面板l 支援BIST及Aging Mode機(jī)種l 每組輸出可提供CLK,可由user自由編輯l 提...

定制化Aging板卡kx-180Al 支持8路訊號同步輸出，每CH支持8路電源輸出支持6路LED輸出160mA/CH，支持每路獨(dú)立開關(guān)功能， 具有防靜電保護(hù)功能...

Aging老化PCB板卡KX-937A支持驅(qū)動一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit， 可編程Power On Sequence，支...

Aging老化板卡支持LVDS訊號格式，支持24機(jī)種存儲功能，方便切換機(jī)種，支持驅(qū)動上位機(jī)下載參數(shù)(Timing參數(shù)/Power及Pattern)

訊號檢查機(jī)-點(diǎn)屏測試-JQ-170E 采用便攜式設(shè)計(jì)(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率 1920X1200 (Max),具有靜電防護(hù)，訊號...

訊號檢查機(jī)-點(diǎn)屏測試JQ-160E 便攜式設(shè)計(jì)(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率至1920X1200 (Max),具有靜電防護(hù)，訊號隔離等...

訊號檢查機(jī)-點(diǎn)屏測試-KX-248M本裝置是專門設(shè)計(jì)用于液晶顯示屏測試，用于不同接口、不同尺寸的小型模組提供點(diǎn)屏?xí)r所需電源、圖形、視訊信號、GPIO等激勵,滿足...

老化測試系統(tǒng)-AOI光學(xué)測試系統(tǒng)應(yīng)用于LCD行業(yè)，覆蓋全尺寸范圍，主要應(yīng)用于產(chǎn)品畫面檢測，基于光學(xué)、電測、軟體、算法、機(jī)構(gòu)五大模塊，利用高分辨率圖像采集系統(tǒng)和光...