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BA 100——x射線膜厚儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
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- 深圳市金東霖科技有限公司
- 2014-01-08 15:54:18
- 深圳市
- 美國
- 306
【簡單介紹】
【詳細說明】
BA 100——x射線膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。無數(shù)次的發(fā)明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調(diào)校。X-射線管的距離也可測量，操作人員只需要調(diào)校樣品焦距便可以測量。
即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
BA 100——x射線膜厚儀儀器優(yōu)勢有：
★ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
★ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
★ 至多同時分析25種元素
★ 經(jīng)實踐驗證、堅固、耐用的設(shè)計，可在絕大多數(shù)嚴苛的工業(yè)條件下使用。
★ 空間占用小，節(jié)約寶貴的工作臺空間，也可近產(chǎn)線放置。
★ 計算機提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。
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